书目详细信息
： 一板成功:高速电路研发与设计典型故障案例解析
书目信息 机读格式(MARC)
| ISBN/价格： | 978-7-302-58923-5:CNY39.00 |
|---|---|
| 作品语种： | chi |
| 出版国别： | CN 110000 |
| 题名责任者项： | 一板成功/.张晶威编著 |
| 出版发行项： | 北京:,清华大学出版社:,2022 |
| 载体形态项： | 127页:;+图:;+24cm |
| 提要文摘： | 本书是面向硬件电路与系统的工程技术类书籍, 通过对电子工程设计中的实际故障案例分析, 帮助读者形成硬件设计流程中电路调测和故障排查的方法体系。从研发设计人员的视角探求硬件电路与系统的测试测量、电路调试、故障分析以及解决方案, 内容涵盖时钟、电源、逻辑器件、总线、高速信号、测量技术等常规的硬件电路模块。兼具理论性和工程实用性。 |
| 题名主题： | 印刷电路 电路设计 |
| 中图分类： | TN410.2 |
| 个人名称等同： | 张晶威 编著 |
| 记录来源： | CN 湖北三新 20230307 |