ISBN/价格: | 978-7-111-29641-6:CNY98.00 |
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作品语种: | chi eng |
出版国别: | CN 110000 |
题名责任者项: | 全面的功能验证/.(美) Bruce Wile, John C. Goss, Wolfgang Roesner著/.沈海华, 乐翔译 |
出版发行项: | 北京:,机械工业出版社:,2010.03 |
载体形态项: | XXI, 487页:;+图:;+24cm |
丛编项: | 国际信息工程先进技术译丛 |
相关题名附注: | 英文题名取自封面 |
提要文摘: | 本书分5个部分。第1部分的内容是功能验证概述, 包括概念背景、验证计划、验证策略和一些基本练习 ; 第2部分和第3部分关注两个最主要的功能验证方法: 基于模拟的验证方法和形式验证方法 ; 第4部分把注意力集中在验证周期的后期阶段 ; 第5部分, 是一些验证实例研究的集合, 进一步强调了验证周期和验证过程中的相关概念。 |
题名主题: | 半导体集成电路 芯片 设计 |
中图分类: | TN430.2 |
个人名称等同: | 怀尔 著 |
个人名称等同: | 戈斯 著 |
个人名称等同: | Roesner, Wolfgang 著 |
个人名称次要: | 沈海华 译 |
个人名称次要: | 乐翔 译 |
记录来源: | CN 华瑞学院 |